IPCE量子效率用于測(cè)量、分析光電探測(cè)器、CMOS，CCD等器件的微小局部特性，由于CMOS單位畫(huà)素尺寸小于50微米，無(wú)法以一般的白光光源聚焦到微米等級(jí)的光斑，須采用激光光源方能聚焦到微米等級(jí)后，因此需要激光光束引致電流掃描圖譜儀，測(cè)量微小器件的居部特性。

　　激光光束引致電流掃描圖譜儀為精密的光電轉(zhuǎn)換IPCE量子效率裝置，用于檢測(cè)光電探測(cè)器、CCD、CMOS器件的轉(zhuǎn)換效率、均勻度，光譜響應(yīng)，IPCE量子效率等特性。其組成為激光源、聚焦光路集成系統(tǒng)、精密電動(dòng)掃描平臺(tái)、光電流訊號(hào)量測(cè)系統(tǒng)、控制分析系統(tǒng)及軟件等五大部分.IPCE量子效率是一種測(cè)量量子效率（量子產(chǎn)額）的裝置。將試料放置在固定治具上之后, 按照專(zhuān)業(yè)軟件的指示操作，可以在短時(shí)間內(nèi)完成試料的測(cè)量及解析。

　　IPCE量子效率專(zhuān)注于簡(jiǎn)單操作,IPCE量子效率使用軟件，操作簡(jiǎn)單,節(jié)省空間，設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔,使用分光器類(lèi)型的激發(fā)光源，可以選擇任意波長(zhǎng),IPCE量子效率可以在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長(zhǎng)及步值，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量。

　　IPCE量子效率專(zhuān)注于高精度測(cè)量:

　　.可以瞬間測(cè)得量子效率（量子產(chǎn)額）；

　　.可以除去激發(fā)熒光發(fā)光光譜；

　　.采用積分半球系統(tǒng)，IPCE量子效率實(shí)現(xiàn)高亮度測(cè)量；

　　.采用低雜光多頻分光檢出器，大幅度減少紫外域的雜光。